10x10mm Nonpolar M-avyon Substra aliminyòm

Deskripsyon kout:

10x10mm Nonpolar M-avyon Substra aliminyòm– Ideyal pou aplikasyon optoelektwonik avanse, ki ofri siperyè bon jan kalite kristalin ak estabilite nan yon fòma kontra enfòmèl ant, segondè presizyon.


Pwodwi detay

Tags pwodwi

Semizè a10x10mm Nonpolar M-avyon Substra aliminyòmse metikuleu ki fèt pou satisfè egzijans aplikasyon avanse optoelektwonik yo. Substra sa a prezante yon oryantasyon M-avyon ki pa polar, ki enpòtan anpil pou diminye efè polarizasyon nan aparèy tankou LED ak dyod lazè, ki mennen nan amelyore pèfòmans ak efikasite.

La10x10mm Nonpolar M-avyon Substra aliminyòmse fabrike ak bon jan kalite kristal eksepsyonèl, asire dansite defo minim ak entegrite siperyè estriktirèl. Sa fè li yon chwa ideyal pou kwasans epitaksyal fim-wo kalite III-nitrure, ki esansyèl pou devlopman pwochen jenerasyon aparèy optoelektwonik yo.

Jeni presizyon Semicera a asire ke chak10x10mm Nonpolar M-avyon Substra aliminyòmofri epesè konsistan ak sifas plat, ki enpòtan anpil pou depo fim inifòm ak fabrikasyon aparèy. Anplis de sa, gwosè kontra enfòmèl ant substra a fè li apwopriye pou tou de rechèch ak anviwònman pwodiksyon, sa ki pèmèt pou itilize fleksib nan yon varyete aplikasyon. Avèk estabilite ekselan tèmik ak chimik li yo, substra sa a bay yon fondasyon serye pou devlopman teknoloji optoelektwonik dènye kri.

Atik

Pwodiksyon

Rechèch

Enbesil

Crystal Paramèt

Politip

4H

Erè oryantasyon sifas

<11-20 > 4±0.15°

Paramèt elektrik

Dopan

n-tip Azòt

Rezistivite

0.015-0.025ohm·cm

Paramèt mekanik

Dyamèt

150.0±0.2mm

Epesè

350±25 μm

Oryantasyon prensipal plat

[1-100]±5°

Longè plat prensipal

47.5±1.5mm

Segondè plat

Okenn

TTV

≤5 μm

≤10 μm

≤15 μm

LTV

≤3 μm (5mm * 5mm)

≤5 μm (5mm * 5mm)

≤10 μm (5mm * 5mm)

Bow

-15μm ~ 15μm

-35μm ~ 35μm

-45μm ~ 45μm

Defòme

≤35 μm

≤45 μm

≤55 μm

Devan (Si-fas) brutality (AFM)

Ra≤0.2nm (5μm * 5μm)

Estrikti

Dansite Micropipe

<1 chak/cm2

<10 chak/cm2

<15 chak/cm2

Enpurte metal

≤5E10atòm/cm2

NA

BPD

≤1500 ea/cm2

≤3000 ea/cm2

NA

TSD

≤500 ea/cm2

≤1000 ea/cm2

NA

Kalite devan

Devan

Si

Sifas fini

Si-fas CMP

Patikil

≤60ea / wafer (size≥0.3μm)

NA

Rayures

≤5ea/mm. Kimilatif longè ≤Dyamèt

Kimilatif longè≤2 * Dyamèt

NA

Kale zoranj / twou / tach / striasyon / fant / kontaminasyon

Okenn

NA

Edge chips / endentasyon / ka zo kase / plak hex

Okenn

Zòn politip yo

Okenn

Zòn kimilatif ≤20%

Zòn kimilatif ≤30%

Devan lazè make

Okenn

Retounen Kalite

Retounen fini

C-fas CMP

Rayures

≤5ea/mm, Kimilatif longè≤2 * Dyamèt

NA

Defo nan do (chips kwen / endentasyon)

Okenn

Retounen brutality

Ra≤0.2nm (5μm * 5μm)

Retounen make lazè

1 mm (soti nan kwen anwo)

Edge

Edge

Chanfrein

Anbalaj

Anbalaj

Epi-pare ak anbalaj vakyòm

Anbalaj kasèt milti-wafer

*Nòt: "NA" vle di pa gen okenn demann. Atik ki pa mansyone yo ka refere a SEMI-STD.

tech_1_2_size
SiC wafers

  • Previous:
  • Pwochen: